M1 Mistral
- Mô tả
- Dowload Catalogue
Mô tả
Máy phân tích quang phổ M1 Mistral nhanh và chính xác.
M1 MISTRAL là máy đo quang phổ nhỏ gọn dùng để phân tích hàng loạt nguyên tố và lớp phủ sử dụng công nghệ huỳnh quang tia X. Máy cho phép phân tích không phá hủy với kích thước mẫu bất kỳ và không cần khâu chuẩn bị nào.
Các ứng dụng bao gồm điện tử, nữ trang, RoHS, ôtô và nhiều ngành khác.

(Máy phân tích quang phổ M1 MISTRAL)
Phân tích mẫu với hình thù bất kỳ mà không cần khâu chuẩn bị nào
M1 MISTRAL là máy đo quang phổ dùng để phân tích hàng loạt nguyên tố và lớp phủ bằng công nghệ huỳnh quang tia X. Mọi nguyên tố từ Z=22 (titan) và cao hơn đều có thể được phân tích. Máy có thể sử dụng với hàng loạt vật liệu như các kim loại, hợp kim, lớp phủ kim loại, bao gồm cả hệ thống nhiều lớp.
Mẫu vật với kích thước đến 100 x 100 x 100 mm có thể đặt trực tiếp lên bàn mẫu và phân tích mà không cần chuẩn bị gì thêm.
Các ứng dụng bao gồm điện tử, nữ trang, RoHS, ôtô và nhiều ngành khác.
Nhờ phân tích không chạm và từ phía trên nên mẫu vật có thể có hình dạng bất kỳ – nữ trang đã hoàn chỉnh hay các vật liệu có độ dày khác nhau – đều có thể phân tích dể dàng.
Đo chính xác ở điểm mong muốn.
Ống phóng tia X có điểm hội tụ siêu nhỏ của máy đo quang phổ M1 MISTRAL tạo ra cường độ đủ mạnh để xuyên sâu đến 100 µm, tùy theo ống chuẩn trực được sử dụng. Cùng với camera hiển vi cho phép đặt chính xác mẫu vật, đảm bảo việc phân tích được thực hiện tại vị trí mong muốn. Ngoài ra để thuận tiện hơn có thể trang bị thêm bàn để mẫu tự động, được điều khiển qua máy tính và tự động điều chỉnh tiêu cự.
Phần mềm điều khiển cho kết quả phân tích tối ưu.

(Phần mềm phân tích quang phổ Xspect)
Cho dù bạn muốn kiểm soát chất lượng của mẫu so với tiêu chuẩn đặt trước hoặc muốn phân tích thành phần của một vật liệu chưa biết, phần mềm XSpect đều có sẵn các công cụ cần thiết: phân tích hàm lượng dựa trên mẫu chuẩn hoặc không dựa trên mẫu chuẩn (phân tích cơ bản) đối với nguyên tố chính và lớp phủ. Phân tích liên tục có thể được thực hiện chỉ cần một cú bấm chuột.
Hệ thống bộ dò cho kết quả cực nhanh.
Máy phân tích quang phổ M1 MISTRAL có thể trang bị một trong hai bộ dò X-ray khác nhau, “proportional counter” cho các ứng dụng cơ bản trong kiểm soát chất lượng hoặc “silicon drift detector” với tốc độ và độ phân giải năng lượng cao hơn, đến 0.01 wt.%. Các bộ dò này với chức xử lý xung kỹ thuật số và tối ưu hóa hình học đảm bảo hiệu quả tối ưu, nhờ đó cho kết quả nhanh và chính xác.
Dễ dùng và không cần bảo trì.
Với thiết kế của máy đo quang phổ M1 MISTRAL và phần mềm Xspect, chỉ cần một người được hướng dẫn cơ bản cũng có thể vận hành.
Chỉ cần một nguồn điện công suất thấp để chạy hệ thống. Tiêu hao không đáng kể vì máy làm mát bằng không khí. Thiết kế cứng cáp đảm bảo sự ổn định và không cần bảo trì.
Các ứng dụng:
Máy phân tích M1 MISTRAL được ứng dụng trong nhiều lĩnh vực. Dưới đây là ba ứng dụng cơ bản nhất:
Phân tích nữ trang và hội

(phân tích quang phổ nữ trang)
M1 MISTRAL rất lý tưởng để phân tích quang phổ các mẫu nữ trang, và các hợp kim quý nói chung. Thành phần chính xác của các loại hợp kim nữ trang, các kim loại nhóm platinum hay bạc có thể được xác định trong chưa đầy một phút.
Kết quả xuất ra có thể thể hiện ở dạng % hoặc Karat.
Kiểm soát theo tiêu chuẩn RoHS
Phiên bản cao cấp của máy M1 MISTRAL có thể phát hiện các nguyên tố cấm theo tiêu chuẩn RoHS với hàm lượng rất thấp. Điều này cho phép kiểm soát các nguyên tố nguy hiểm trong các thiết bị điện và điện tử.
Phân tích lớp mạ
Công nghệ huỳnh quang tia X của máy đo quang phổ M1 MISTRAL cho phép phân tích hiệu quả lớp mạ mỏng, như trên PCB, kim loại hoặc nhựa. Hệ thống hỗ trợ phân tích đơn lớp hay đa lớp. Phần mềm XSpect đồng thời tính toán độ dày cũng như thành phần, dựa trên phương pháp phân tích không mẫu chuẩn (phân tích cơ bản). Hàm lượng chính xác có thể được cải thiện sau đó với phương pháp dựa theo mẫu chuẩn.
Nữ trang
ƒ Vàng vàng
ƒ Vàng trắng
ƒ Hợp kim Pt
ƒ Hợp kim Ag
Độ chính xác: tốt hơn 0.2wt%
Tiêu chuẩn RoHS
ƒ Hàm lượng của Cr, Br, Pb, Hg phải < 1,000 ppm
ƒ Hàm lượng của Cd phải < 100 ppm
Phân tích đa lớp
Các lớp khác nhau có thể được phân tích theo độ dày và hàm lượng, như:
ƒ Zn-Fe
ƒ Au-Ni-Cu
ƒ Au-Pd-Ni-Cu
ƒ CuSn-Ni-Cu
ƒ Au-Pd-Ni-Cu
ƒ Cr-Ni-Cu.
| Dòng máy | M1 Mistral |
| Nguồn kích thích | Ống phóng tia X hiệu suất cao |
| Cao áp | 40 kV, 40 W |
| Bộ dò | Vùng prop-counter rộng Vùng nhạy: 1100 mm² |
| Đường kính điểm đo | Có thể thay đổi: 0.3mm hoặc lớn hơn |
| Xem mẫu | Hệ thống camera màu độ phân giải cao CCTV, Độ phóng đại từ 20x đến 40x |
| Bệ đặt mẫu | Trục Z tự động lấy nét Tùy chọn: Trục X-Y-Z tự động lấy nét và tính năng EasyLoad |
| Định lượng | Phân tích số lượng lớn: dựa trên mô hình thực nghiệm chuẩn và không chuẩn. Lớp phủ ngoài: dựa trên mô hình FP |
| Nguồn điện | 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, max. 100 W |
| Kích thước (Rộng x Dày x Cao) |
550 x 700 x 430 mm |
| Trọng lượng | 46 kg |
| Nhà sản xuất | Bruker (Đức) |

